特許
J-GLOBAL ID：200903018554162659

光学装置、光スペクトラム・アナライザ及び光信号検出方法

発明者：
ドゥウェーン・アール・アンダーソン

ドゥウェーン・アール・アンダーソン について


出願人/特許権者：
テクトロニクス・インコーポレイテッド

テクトロニクス・インコーポレイテッド について


代理人 (1件)： 山口 邦夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-035863
公開番号（公開出願番号）：特開2001-255207
出願日： 2001年02月13日
公開日（公表日）： 2001年09月21日
要約：
【要約】【課題】 光スペクトラム・アナライザにおいて、校正光信号及び被試験光信号を同時に検出する。【解決手段】 放物面境12は、ファイバ24からの校正光信号39及びファイバ26からの被試験光信号34を受ける。回折格子42は、放物面境12で反射された校正光信号及び試験光信号を受け、試験光信号のスペクトル成分を分離すると共に、校正光信号の2次以上のスペクトル線を放物面境12に戻す。放物面境12は、これら試験光信号及び校正光信号をファイバ30及び32に反射する。試験信号検出器36は、ファイバ30からの試験光信号を検出し、校正信号検出器40は、ファイバ32からの校正光信号を検出する。校正信号検出器40の検出出力に応じて、試験信号検出器36の検出出力を校正できる。
請求項（抜粋）：
限定された1次スペクトル域を有し、校正光信号及び被試験光信号を同時に検出する光学装置であって、光軸及び焦点面を有し、上記校正光信号及び上記被試験光信号を受けるコリメーティング光学素子と、該コリメーティング光学素子の光軸と同一線上の中心軸と、上記コリメーティング光学素子の焦点面内に配置されて入力光ファイバ及び出力光ファイバを各々が有する第1及び第2光ファイバ対とを含み、該第1及び第2ファイバ対の各々の上記入力光ファイバ及び上記出力光ファイバが上記中心軸の各側で対称に配置され、上記第1光ファイバ対の入力ファイバが上記被試験光信号を受信するファイバ・アレイと、上記第2光ファイバ対の入力ファイバに結合され、上記光学装置の1次スペクトル域内の2次以上のスペクトル線を有する校正光信号を発生する光信号源と、上記コリメーティング光学素子からの上記校正光信号及び上記被試験光信号を受け、上記1次スペクトル域にわたって上記光学装置を同調させて、上記被試験光信号のスペクトル成分を分離すると共に、上記校正光信号の2次以上のスペクトル線を通過させる光同調要素と、上記第1光ファイバ対の出力光ファイバに結合され、上記被試験光信号のスペクトル成分に応答し、上記校正光信号の2次以上のスペクトル線には応答しにくい第1光検出器と、上記第2光ファイバ対の出力光ファイバに結合され、上記校正光信号の2次以上のスペクトル線に応答し、上記被試験光信号のスペクトル成分に応答しにくい第2光検出器とを具えた光学装置。
IPC (3件)：
G01J 3/02 ,  G01J 3/18 ,  G01J 3/36
FI (3件)：
G01J 3/02 C ,  G01J 3/18 ,  G01J 3/36
引用特許：
出願人引用 (2件)
  • 特開昭63-284429
  • 光波長計
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-067325   出願人：安藤電気株式会社
審査官引用 (2件)
  • 特開昭63-284429
  • 光波長計
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-067325   出願人：安藤電気株式会社

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