特許
J-GLOBAL ID：200903018566537275
放射線強度分布測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-240131
公開番号（公開出願番号）：特開平10-090414
出願日： 1996年09月11日
公開日（公表日）： 1998年04月10日
要約：
【要約】【課題】本発明の目的は大,小規模の放射線強度分布測定システムを構築できる装置を柔軟かつ安価に提供することにある。【解決手段】本発明は、複数個のラジオフォトルミネッセンスまたは光輝尽発光を示す素子を光ファイバで結合し、励起光の入射から放射光の光電子変換素子への到達までの時間から発光位置を特定し、放射線強度分布を測定するものである。【効果】複数個のラジオフォトルミネッセンスまたは光輝尽発光を示す素子を光ファイバで結合し、励起光の入射から放射光の光電子変換素子への到達までの時間から発光位置を特定し、放射線強度分布を特定することにより、安価な大規模放射線強度分布測定システムを構築できる。
請求項（抜粋）：
一本の光ファイバの一端を基部とし、該光ファイバからそれぞれ枝分した光ファイバの先端部にそれぞれ放射線発光検出素子を該光ファイバと光学的に結合し、前記光ファイバの基部には光検出器及び光ファイバに光を入射させることができる光源とを光学的に接続し、前記放射線発光検出素子から光源及び光検出器までの光路長の和がそれぞれ異なるように接続し、光の入射から光検出器へ放射線検出光が到達するまでの時間から該放射線発光検出素子の位置を各々特定するための演算装置と、前記検出器により検知した該放射線発光検出素子の発光強度から放射線量を求める演算装置とを有することを特徴とする放射線測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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