特許
J-GLOBAL ID：200903018590472125
粒子分析装置及び方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田中 浩 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-359893
公開番号（公開出願番号）：特開平6-201569
出願日： 1992年12月28日
公開日（公表日）： 1994年07月19日
要約：
【要約】【目的】 疾患の可能性、装置の精度管理及び性能評価を、定量的にかつ簡単に容易に行える。【構成】 粒子検出器が、複数の粒子を個々に測定することにより、粒子個々に得た2種類のデータを、二次元分布データに変換手段22によって変換する。粒子に対する基準分布データをデータベース記憶手段26に格納し、二次元分布データと上記基準分布データとに基づいて、類似度算出手段28が、二次元分布データの基準分布データに対する分布の類似度δを算出し、この類似度を表示装置20に表示する。
請求項（抜粋）：
複数の粒子を個々に測定することにより上記粒子個々に少なくとも1種類のデータを得る粒子検出手段と、これらデータを分布データに変換する変換手段とを、具備する粒子分析装置において、上記粒子に対する基準分布データを格納しているデータベース記憶手段と、上記分布データと上記基準分布データとに基づいて、上記分布データの上記基準分布データに対する分布の類似度δを算出する類似度算出手段と、を具備することを特徴とする粒子分析装置。
IPC (2件)：
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