特許

J-GLOBAL ID：200903018605408674

複素誘電率の非破壊測定装置

発明者： 平野 誠
出願人/特許権者： 平野 誠 ,  鈴木 洋介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-134022
公開番号（公開出願番号）：特開2001-281284
出願日： 2000年03月30日
公開日（公表日）： 2001年10月10日
要約：

【要約】【課題】マイクロ波およびミリ波領域における損失誘電体の複素誘電率を、簡単な装置を用いて非破壊で測定する。【解決手段】導波管の開口部にフランジを装着したフランジ付導波管33,34と、導体板36との間に測定対象の誘電体35を挿入し、フランジ付導波管と導体板で誘電体を押さえ、開口部の反射係数を反射特性測定装置により測定する。測定された反射係数の絶対値と位相角は、誘電率と1対1に対応していることから、この関係を利用して容易に複素誘電率が求められる。

請求項（抜粋）：

フランジ付導波管と導体板との間に誘電体を挿入して押さえ、開口面の反射係数を計測し、その計測により得られた反射係数の絶対値と位相角から、前記挿入した誘電体の複素誘電率を求めることを特徴とする複素誘電率の測定装置。

IPC (2件)：

G01R 27/26 ,  G01R 29/08

FI (3件)：

G01R 27/26 H ,  G01R 27/26 T ,  G01R 29/08 Z

Fターム (8件)：

2G028AA01 ,  2G028AA03 ,  2G028BB06 ,  2G028BC01 ,  2G028CG09 ,  2G028CG15 ,  2G028DH15 ,  2G028GL20