特許

J-GLOBAL ID：200903018628277160

振幅確率分布測定装置

発明者： 細谷 晴彦 ,  内野 政治
出願人/特許権者： アンリツ株式会社 ,  株式会社環境電磁技術研究所
代理人 (1件)： 早川 誠志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-340643
公開番号（公開出願番号）：特開平10-170574
出願日： 1996年12月05日
公開日（公表日）： 1998年06月26日
要約：

【要約】【課題】 小型で高い振幅分解能、高い時間分解能を実現する。【解決手段】 A/D変換器22から出力されるデータでメモリ25のアドレスを選択し、そのアドレスに記憶されているnビットデータを、2のべき乗から1を減じた値(2ni-1)が互いに素となり且つその総和(n1 +n2 +...+nr)がnに等しくなるビット数のデータに分割し、そのビット数を次数とする原始多項式に対応した複数の線形論理回路27〜29によってそれぞれ次段階のデータに遷移させる。一定の計測時間が経過したのち、メモリ25の計測データとして順次読み出し、各原始多項式に対応した変換テーブル45〜47によって、計測データの分割データにそれぞれ対応する複数の遷移回数値を求め、メモリの各アドレスが、計測時間中にA/D変換器の出力データによって選択された回数を算出する。

請求項（抜粋）：

nビットのデータの記憶および変更が可能な2m 個の記憶回路と、入力信号をサンプリングしmビット並列のデータに変換し、該変換したデータを前記2m 個の記憶回路のいずれかを選択するためのデータとして順次出力するA/D変換器と、前記2m 個の記憶回路のうち、前記A/D変換器の出力データによって選択された記憶回路に記憶されているデータを、n次原始多項式に対応した線形論理回路によって次段階のデータに遷移させるデータ遷移手段と、前記A/D変換器によるサンプリングが所定の計測時間行われた後に前記2m個の記憶回路に記憶されているデータを計測データとして順次読み出す計測データ読出手段と、予め所定の基準データを前記n次原始多項式の遷移過程にしたがって遷移させたときのデータと前記基準データからの遷移回数値とが対応付けられて記憶され、前記計測データ読出手段によって読み出された計測データに対応する遷移回数値を順次出力する遷移回数出力手段とを備え、前記遷移回数出力手段から出力される各記憶回路毎の遷移回数値に基づいて、前記A/D変換器のしきい値電圧に対する前記入力信号の振幅確率分布を求めることを特徴とする振幅確率分布測定装置。