特許
J-GLOBAL ID:200903018691649107

環境磁場キャンセリングシステム及び磁気計測装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 波多野 久 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-242928
公開番号(公開出願番号):特開平11-083965
出願日: 1997年09月08日
公開日(公表日): 1999年03月26日
要約:
【要約】【課題】対象体からの微弱磁場を正確かつ高精度で計測可能にする。【解決手段】測定対象から発せられた微弱磁場以外の周囲の環境に由来して生じた環境磁場を複数のSQUID磁束計2a1 〜2a3 を用いて計測してキャンセリングする環境磁場キャンセリングシステム1。フィードバック回路14a1 〜14a3 におけるフィードバック抵抗12a1〜12a3 の各インピーダンスをそれぞれ変化させて(Zf1〜Zf3)、フィードバック回路14a1 〜14a3 のフィードバックゲインをそれぞれ変える(βf1〜βf3)ことにより、複数のSQUID磁束計2a1 〜2a3 におけるダイナミックレンジ及びスルーレートを各SQUID磁束計2a1 〜2a3 間で互いに異なるように設定している。
請求項(抜粋):
測定対象から発せられた微弱磁場以外の周囲の環境に由来して生じた環境磁場を複数のSQUID磁束計を用いて計測してキャンセリングする環境磁場キャンセリングシステムであって、前記複数のSQUID磁束計におけるダイナミックレンジ及びスルーレートを各SQUID磁束計間で互いに異なるように設定したことを特徴とする環境磁場キャンセリングシステム。
IPC (3件):
G01R 33/02 ,  A61B 5/05 ,  G01R 33/035 ZAA
FI (3件):
G01R 33/02 W ,  A61B 5/05 A ,  G01R 33/035 ZAA

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