特許

J-GLOBAL ID：200903018724475983

照合方法および照合装置

発明者： 齊藤 博文
出願人/特許権者： 三洋電機株式会社
代理人 (1件)： 森下 賢樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-093208
公開番号（公開出願番号）：特開2006-277146
出願日： 2005年03月28日
公開日（公表日）： 2006年10月12日
要約：

【課題】 高精度な照合を行う生体認証技術を提供する。【解決手段】 照合装置1において、撮像部100は、照合のための参照画像および対象画像を撮影する。演算部220は特徴点を抽出し、1つ以上の特徴点の対を生成する。さらに対をなす特徴点の間の隆線の方向ベクトルを隆線ごとに算出し、方向ベクトルの分布を方向成分ごとに取得する。記録部240は、参照画像の特徴点の特徴量を記録したテーブルと、特徴点の対とその間の隆線の方向ベクトルの分布とを関連づけて記録したテーブルと、を保存する。照合部230は対応する方向ベクトルの分布と特徴点の特徴量とに基づき、認証対象画像と参照画像の照合を行う。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

照合のための参照画像から所定の規則に基づき複数の特徴点を抽出するステップと、 前記複数の特徴点から特徴点の対を生成するステップと、 前記特徴点の対の間に存在する画素の所定の画素値の勾配ベクトルを算出するステップと、 前記勾配ベクトルを用いて所定の属性の勾配情報を取得するステップと、 対をなす前記特徴点の特徴情報とその間の前記勾配情報とを関連づけて記録するステップと、 を含むことを特徴とする照合方法。

IPC (1件)：

G06T 7/00

FI (2件)：

G06T7/00 530 ,  G06T7/00 300F

Fターム (11件)：

5B043AA09 ,  5B043BA02 ,  5B043EA06 ,  5B043EA08 ,  5B043GA03 ,  5L096BA15 ,  5L096FA09 ,  5L096FA67 ,  5L096FA76 ,  5L096HA09 ,  5L096JA11

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 画像特徴抽出装置,画像特徴解析装置,および画像照合システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-353220   出願人：日本電気株式会社