特許
J-GLOBAL ID:200903018761255594
製造履歴管理装置および製造履歴管理方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
三好 秀和 (外7名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-106403
公開番号(公開出願番号):特開2003-303007
出願日: 2002年04月09日
公開日(公表日): 2003年10月24日
要約:
【要約】【課題】 物品と共に搬送され、各工程での検査結果を記録するデータキャリアを用いて、出荷元、および出荷先における検査結果を取得し、管理する製造履歴管理装置および製造履歴管理方法を提供する。【解決手段】 製品からデータキャリア6を取り外すことなく出荷し、出荷先での検査結果をデータキャリア6に保存、回収し、リーダ・ライタ4によって出荷元と出荷先とにおいて製品単位でデータキャリア6に記録された検査結果を取得し、データ分析端末5は、予め用意された検査項目と関連部品との相関表と、検査結果を比較し、検査結果が一致する関連部品を問題箇所として抽出をする。
請求項(抜粋):
物品と共に搬送されるデータキャリアに記録された出荷元、および出荷先における検査値を取得し、管理する製造履歴管理装置であって、同一検査項目における前記出荷元と前記出荷先との前記検査値の変化と、前記検査項目に関連する部品の基準値の変化との関係を記録したデータベースと、同一検査項目における前記出荷元と前記出荷先との前記検査値の変化を算出し、前記データベースに記録された関係から、その変化に対応する部品を異常発生箇所として抽出する異常発生箇所抽出手段と、を備えることを特徴とする製造履歴管理装置。
IPC (4件):
G05B 19/418
, G06F 17/60 106
, G06K 17/00
, G06K 19/00
FI (4件):
G05B 19/418 Z
, G06F 17/60 106
, G06K 17/00 L
, G06K 19/00 Q
Fターム (18件):
3C100AA57
, 3C100BB02
, 3C100BB03
, 3C100BB27
, 3C100CC08
, 3C100DD07
, 3C100DD22
, 3C100DD25
, 3C100EE08
, 5B035BA01
, 5B035BB09
, 5B035BC00
, 5B035CA06
, 5B035CA29
, 5B058CA23
, 5B058KA02
, 5B058KA04
, 5B058YA20
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