特許
J-GLOBAL ID：200903018783643792
テスト機能を有する半導体記憶装置及びそのテスト方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
藤巻 正憲
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-185605
公開番号（公開出願番号）：特開平5-012900
出願日： 1991年06月28日
公開日（公表日）： 1993年01月22日
要約：
【要約】【目的】 短時間で信頼性の高いテストを行うことのできるテストモードを備える半導体記憶装置を提供することである。【構成】 レジスタ10にデータをセットする。レジスタ10のデータをメモリセルに並列に書き込み、再び読み出す。メモリセルから読み出されたデータとレジスタ10に記憶されたデータをテスト回路7によりビット単位で比較する。テスト回路7の出力が両データの一致を指示していれば、メモリは正常である。書き込み、読みだし及び比較の一連の動作はアドレスを更新しつつ繰り返して実行される。
請求項（抜粋）：
テストモードを有する半導体記憶装置において、メモリセルに所定ビットづつデータを並列に書き込む手段と、前記データに対応するデータを記憶する記憶部と、前記メモリセルに書き込んだデータを読み出す読出手段と、前記読出手段により読み出されたデータと前記記憶部に記憶されたデータをビット単位で比較するテスト回路とを備えることを特徴とするテスト機能を有する半導体記憶装置。
IPC (2件)：
G11C 29/00 303
, G01R 31/318
