特許
J-GLOBAL ID：200903018814323880
外観検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
須田 正義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-300521
公開番号（公開出願番号）：特開平6-129823
出願日： 1992年10月13日
公開日（公表日）： 1994年05月13日
要約：
【要約】【目的】 設備が大規模にならずに、1つの検査工程でしかも少ない台数のカメラで被検査部品の複数の面を同時に観察できる。【構成】 上部にフランジ部12が形成された円柱状又は円筒状の被検査部品11の外観を検査する装置に関し、部品の胴部13を挿脱でき孔上部を漏斗状に形成してフランジ部を孔上部で係止しかつ孔上部内面14aが凹面鏡をなす貫通孔14を有する被検査部品ホルダ19と、貫通孔の孔中心を通る直線Lに対して90度未満の角度で貫通孔に挿入された部品のフランジ部を照射する上部光源21,22と、直線L上に位置しかつ部品の上面を含む貫通孔の孔上部内面を撮影する第1カメラ17とを備える。
請求項（抜粋）：
上部にフランジ部(12)が形成された円柱状又は円筒状の被検査部品(11)の胴部(13)を挿脱でき孔上部を漏斗状に形成して前記フランジ部(12)を前記孔上部で係止しかつ孔上部内面(14a)が凹面鏡をなす貫通孔(14,33,34,35)を有する被検査部品ホルダ(19,28)と、前記貫通孔(14,33,34,35)の孔中心を通る直線(L)に対して90度未満の角度で前記貫通孔(14,33,34,35)に挿入された被検査部品(11)のフランジ部(12)を照射する上部光源(21,22)と、前記直線(L)上に位置しかつ前記被検査部品(11)の上面を含む前記貫通孔(14,33,34,35)の孔上部内面(14a)を撮影する第1カメラ(17)とを備えた外観検査装置。
IPC (2件)：
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