特許

J-GLOBAL ID：200903018831102782

高速デ-タチャンネルのジッタの測定

発明者： ワジ ダラル ,  ダニエル エイ. ローゼンタール
出願人/特許権者： シュルンベルジェ テクノロジーズ, インコーポレイテッド
代理人 (1件)： 小橋 一男 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-298939
公開番号（公開出願番号）：特開2000-188617
出願日： 1999年10月20日
公開日（公表日）： 2000年07月04日
要約：

【要約】【課題】 高帯域幅アンダーサンプリング電圧測定装置を使用した改良したジッタ測定技術を提供する。【解決手段】 繰返し信号パターンを有する信号からトリガを派生する。該信号を信号パターンの複数回の繰返し期間中にトリガと相対的に複数回の時間においてスレッシュホールドと比較して該スレッシュホールドと相対的な信号レベルを表わす測定サンプルを発生する。該測定サンプルを使用して複数回の繰返しに対する時間の関数として信号エッジ状態の確率を決定する。信号エッジ状態の確率を使用して時間の関数としてのエッジ確率密度を決定する。信号状態遷移時間のヒストグラムをエッジ確率密度から作成することが可能である。該信号のエッジ遷移の平均偏差及び標準偏差を推定して該信号の二乗平均(rms)ジッタを与えることが可能である。

請求項（抜粋）：

繰返し信号パターンを有する信号のジッタを測定する方法において、(a)前記信号からトリガを派生し、(b)スレッシュホールドと相対的な信号レベルを表わす測定サンプルを発生するために前記信号パターンの複数回の繰返し期間中に前記トリガに対して複数回前記信号をスレッシュホールドと比較し、(c)前記複数回の繰返しに対する時間の関数として前記測定サンプルから信号エッジ状態の確率を決定し、(d)前記信号エッジ状態の確率から前記複数回の繰返しに対する時間の関数としてエッジ確率密度を決定する、ことを特徴とする方法。

IPC (2件)：

H04L 25/02 302 ,  G01R 29/02

FI (2件)：

H04L 25/02 302 A ,  G01R 29/02 L