特許

J-GLOBAL ID：200903018853694438

汚染物質の捕捉方法

発明者： ダニエル グヴァノ ,  柏谷 衛 ,  岩佐 弘 ,  飯尾 正俊
出願人/特許権者： ライト工業株式会社
代理人 (1件)： 永井 義久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-012342
公開番号（公開出願番号）：特開平8-197028
出願日： 1995年01月30日
公開日（公表日）： 1996年08月06日
要約：

【要約】【目的】遮断壁の透水係数を低下させるとともに、優れた6価クロム(Cr6+)の遮断性を示すものを提供する。【構成】汚染されたまたは汚染の虞れがある汚染対象汚染領域Aに対して、セメントおよびベントナイトを主体とする遮断壁2を構築してその遮断壁2の外方に汚染物質の流出を防止する方法において、遮断壁2の内部または汚染対象領域Aに塩化マグネシウムを含有させる。

請求項（抜粋）：

汚染されたまたは汚染の虞れがある汚染対象汚染領域に対して、セメントおよびベントナイトを主体とする遮断壁を構築してその遮断壁の外方に汚染物質の流出を防止する方法において、前記遮断壁の内部または汚染対象領域に塩化マグネシウムを含有させることを特徴とする汚染物質の捕捉方法。

IPC (5件)：

B09B 1/00 ZAB ,  A62D 3/00 ZAB ,  B09B 3/00 ZAB ,  B09C 1/02 ,  B09C 1/08

FI (2件)：

B09B 3/00 ZAB ,  B09B 3/00 304 K