特許
J-GLOBAL ID：200903018875392664
画像計測装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
立石 篤司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-310058
公開番号（公開出願番号）：特開平11-132740
出願日： 1997年10月24日
公開日（公表日）： 1999年05月21日
要約：
【要約】【課題】 簡単な操作でエッジ検出できるようにする。【解決手段】 メモリ41Dに記憶された画像データ51Bによる画像がディスプレイ43の表示画面上に表示された状態で、マウス42bによりその画像に対する計測箇所の指示をすると、この指示内容が計測条件入力のためのプログラム53Bにより入力され、エッジ検出のためのプログラム53Dによって指示された点の最近傍のエッジ点の座標及びこれに近接する少なくとも2点のエッジ点の座標が検出される。そして、形状認識のためのプログラム53Fによって上記少なくとも3点のエッジ点の座標に基づきエッジ要素を認識することにより計測対象物の形状の認識が行われる。このように、マウス42bを用いて計測箇所を指示するという簡単な操作により計測対象物のエッジ検出を含む形状認識を行うことができる。
請求項（抜粋）：
計測対象物の像を撮像して得られた画像情報を用いて前記計測対象物の形状を計測する画像計測装置であって、前記画像情報を記憶するメモリと;前記画像情報に対応する画像を表示画面上に表示する画像表示装置と;前記表示画面上に表示された画像に対して計測箇所の近傍の点の指示を入力するための点入力手段と;前記メモリ内の画像情報に含まれる各画素の位置情報と階調情報とに基づいて、前記点入力手段により指示された点の近傍に存在する前記対象物の像のエッジ上の複数点の内所定の条件を満たすエッジ上の点の座標であるエッジ座標を検出する第1のエッジ検出手段と;前記エッジ座標が検出された前記エッジ上の点を基準点として含む所定範囲内に前記指示された点と前記基準点とを結ぶ方向の複数ラインを設定し、該複数ラインの前記基準点を含むライン以外の少なくとも2ラインについて、各ライン毎に前記メモリ内の画像情報に含まれる各画素の位置情報と階調情報とに基づいてエッジ上の点の座標を検出する第2のエッジ検出手段と;前記第1、第2のエッジ検出手段により検出された相互に近接する少なくとも3点のエッジ上の点の座標に基づき前記3点が属するエッジ要素の種類を認識することにより、前記計測対象物の少なくとも一部の形状を認識する形状認識手段とを有する画像計測装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 11/24 H
, G01B 21/20 Z
