特許

J-GLOBAL ID：200903018889013445

紫外線螢光分析法を用いたガス分析計

発明者： 加藤 純治 ,  松浦 良視
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-154004
公開番号（公開出願番号）：特開平8-327546
出願日： 1995年05月29日
公開日（公表日）： 1996年12月13日
要約：

【要約】【目的】 バックグランド(迷光)によるドリフト、温度影響等による指示誤差を低減できる紫外線螢光分析法を用いたガス分析計を提供すること。【構成】 流体変調方式を用いるガス分析計であって、紫外線照射光源3と、この紫外線照射光源3より発せられる紫外線をセル内に集光する集光レンズ2と、この集光レンズ2の光軸Aに直交する位置に設けられ、紫外線の照射によりサンプルガスSから発する紫外線螢光を検出する螢光検出器6と、これら紫外線照射光源3、集光レンズ2および螢光検出器6を保持する保持部材1とを備え、更に、前記セルが、前記保持部材1における紫外線の集光位置Fに、位置調節可能で、かつ、着脱自在に配置された箱状の微少セル5であるとともに、この微少セル5に導入されたサンプルガスSから発する前記紫外線螢光を前記螢光検出器6に集光する集光レンズ8を前記保持部材1に設けてある。

請求項（抜粋）：

セル内にサンプルガスとリファレンスガスを一定周期で交互に導入する流体変調方式を用い、紫外線の照射によりサンプルガスから発生される紫外線螢光を螢光検出器で検出するガス分析計であって、紫外線照射光源と、この紫外線照射光源より発せられる紫外線をセル内に集光する集光レンズと、この集光レンズの光軸に直交する位置に設けられ、紫外線の照射によりサンプルガスから発する紫外線螢光を検出する螢光検出器と、これら紫外線照射光源、集光レンズおよび螢光検出器を保持する保持部材とを備え、更に、前記セルが、前記保持部材における紫外線の集光位置に、位置調節可能で、かつ、着脱自在に配置された箱状の微少セルであるとともに、この微少セルに導入されたサンプルガスから発する前記紫外線螢光を前記螢光検出器に集光する集光レンズを前記保持部材に設けてあることを特徴とする紫外線螢光分析法を用いたガス分析計。

IPC (2件)：

G01N 21/64 ,  G01N 21/33

FI (2件)：

G01N 21/64 D ,  G01N 21/33

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭63-222242
  
• 特開昭51-054487
  
• 特開昭62-259043