特許
J-GLOBAL ID：200903018897762198
X線撮影装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山野 宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-162108
公開番号（公開出願番号）：特開2007-330302
出願日： 2006年06月12日
公開日（公表日）： 2007年12月27日
要約：
【課題】暗電流ノイズを低減することが可能なX線撮影装置を提供する。【解決手段】X線照射部と、X線可動絞りと、X線平面検出器(FPD)と、有効画像領域算出部101と、電荷読み出し時間算出部102と、第一画像データ取得周期設定部103とを備える。これらの構成により、実際にX線がFPDに入射する領域(有効画像領域)における電荷の読み出し時間を算出し、この時間に基づいて、X線の照射周期の1/n(nは2以上の整数)となるように画像データ取得周期を設定する。ここで、FPDの全面に亘って電荷を読み出した場合の画像データ取得周期を基準画像データ取得周期とした場合、設定する画像データ取得周期は、基準画像データ取得周期の電荷蓄積可能時間よりも短縮された電荷蓄積可能時間を有する。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
被検体にX線を照射するX線照射手段と、X線の照射領域を制限するX線可動絞りと、X線の入射量に応じて蓄積された電荷を画像データとして任意の領域から選択的に読み出し可能なX線平面検出器とを備え、前記X線照射手段から一定の照射周期でX線を照射可能にすると共に、一つの画像データを取得するのに要する単位周期である画像データ取得周期に基づいて画像データの取得を行うX線撮影装置であって、
X線可動絞りにより照射領域を制限されたX線がX線平面検出器に入射する領域を算出する有効画像領域算出手段と、
有効画像領域における画像データを選択的に読み出した場合の電荷読み出し時間を算出する読み出し時間算出手段と、
前記照射周期の1/n(nは2以上の整数)となるように画像データ取得周期を設定する第一画像データ取得周期設定手段とを備え、
前記照射周期と同一の画像データ取得周期を基準画像データ取得周期、X線平面検出器の全面に亘って電荷を読み出すのに要する時間を基準電荷読み出し時間、基準画像データ取得周期から基準電荷読み出し時間を減算した時間を基準電荷蓄積可能時間とした場合、前記画像データ取得周期は、基準電荷蓄積可能時間よりも短縮された電荷蓄積可能時間と読み出し時間算出手段で算出された電荷読み出し時間との合計で規定されることを特徴とするX線撮影装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (8件)：
4C093CA06
, 4C093CA30
, 4C093EA14
, 4C093EB13
, 4C093EB17
, 4C093FA32
, 4C093FC17
, 4C093FC19
出願人引用 (1件)
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X線撮影装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2002-293404
出願人：株式会社日立メディコ
審査官引用 (8件)
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