特許
J-GLOBAL ID：200903018898566066

基板の機能検査装置及びその方法

発明者：
藤森 郁美

藤森 郁美 について


出願人/特許権者：
リコーマイクロエレクトロニクス株式会社

リコーマイクロエレクトロニクス株式会社 について


代理人 (1件)： 黒田 壽
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-079225
公開番号（公開出願番号）：特開2000-275292
出願日： 1999年03月24日
公開日（公表日）： 2000年10月06日
要約：
【要約】【課題】 検査効率が高く、イニシャルコストが低く、基板の機能に関する内容を秘密状態のまま該基板の機能検査を行うことができる基板の機能検査装置及びその方法を提供する。【解決手段】 紙幣画像等を認識するための基板の機能を検査する基板の機能検査装置に、該紙幣画像等の画像信号を記憶する画像信号記憶部2と、該記憶手段から検査対象である被検査PCB50への画像信号の入力を制御するための制御信号を生成する制御信号生成部3とを設けられている。また、この機能検査装置1には、上記画像信号が入力された被検査PCBからの出力信号を、該被検査PCBの特定画像認識機能の良否を判定する判定装置4に送信するためのインターフェース部が設けられている。そして、上記インターフェースから出力された上記出力信号に基づいて、上記判定装置により特定画像認識機能の良否が判定される。
請求項（抜粋）：
特定画像を認識するための基板の機能を検査する基板の機能検査装置において、上記特定画像の画像信号を記憶する記憶手段と、該記憶手段から上記基板への画像信号の入力を制御するための制御信号を生成する制御信号生成手段と、該画像信号が入力された該基板からの出力信号に基づいて、該基板の特定画像認識機能の良否を判定する判定手段とを設けたことを特徴とする基板の機能検査装置。
IPC (3件)：
G01R 31/00 ,  B41J 29/46 ,  G01N 21/88
FI (3件)：
G01R 31/00 ,  B41J 29/46 C ,  G01N 21/88 J
Fターム (21件)：
2C061AP03 ,  2C061AP04 ,  2C061AP10 ,  2C061AR01 ,  2C061AS02 ,  2C061KK22 ,  2G036AA19 ,  2G036AA27 ,  2G036BA28 ,  2G036CA01 ,  2G036CA08 ,  2G051AA61 ,  2G051AA65 ,  2G051AB20 ,  2G051AC04 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EA17 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G051FA10
引用特許：
審査官引用 (8件)
  • 特開平4-302374
  • 特定原稿認識装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-353695   出願人：富士ゼロックス株式会社
  • 特開平4-003642
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