特許

J-GLOBAL ID：200903018907695214

数値制御工作機械における光学式被加工物形状測定装置

発明者： 小川 岳夫 ,  住江 伸吾 ,  和佐 泰宏 ,  山口 証 ,  日下部 祐次 ,  河本 憲二 ,  川淵 義行
出願人/特許権者： 株式会社神戸製鋼所
代理人 (1件)： 金丸 章一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-143672
公開番号（公開出願番号）：特開平7-001294
出願日： 1993年06月15日
公開日（公表日）： 1995年01月06日
要約：

【要約】【目的】 加工された被加工物を数値制御工作機械に取付けたままの状態でその被加工物形状を測定するに際し、複雑な形状を持つ被加工物についてもその形状測定が可能でかつ精度良く行うことができる装置を得る。【構成】 投光部と、この投光部から照射されて数値制御工作機械に取付けられた被加工物を通過後の光の明暗を感知して電気信号とする受光部とを有し、前記投光部と前記受光部との間に位置された前記被加工物により前記投光部からの光が遮られることによる影の部分に基づいて前記被加工物の形状を測定するようにした光学式被加工物形状測定装置において、前記受光部を、集光素子と、光入射側からみて前記集光素子の後側焦点に微小孔を位置させて配置したピンホール板と、このピンホール板の後側に配置したイメージセンサとにより構成して、数値制御工作機械の工具取付け台に取付ける。

請求項（抜粋）：

光を照射する投光部と、この投光部から照射されて数値制御工作機械に取付けられた被加工物を通過後の光の明暗を感知して電気信号とする受光部とを有し、前記投光部と前記受光部との間に位置された前記被加工物により前記投光部からの光が遮られることによる影の部分に基づいて前記被加工物の形状を測定するようにした数値制御工作機械における光学式被加工物形状測定装置において、前記受光部を、集光素子と、光入射側からみて前記集光素子の後側焦点に微小孔を位置させて配置したピンホール板と、このピンホール板の後側に配置したイメージセンサとにより構成して、数値制御工作機械の工具取付け台に固設したことを特徴とする数値制御工作機械における光学式被加工物形状測定装置。

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 精密切削加工装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-261843   出願人：キヤノン株式会社
• 特開平4-084705