特許

J-GLOBAL ID：200903018997658924

汚損劣化診断方法および装置

発明者： 藤堂 洋子 ,  澤田 彰 ,  兼平 勝己 ,  佐々木 恵一 ,  安達 健二 ,  大久保 正明 ,  木村 和成 ,  今井 博美 ,  村山 忠義
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 三好 秀和 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-136316
公開番号（公開出願番号）：特開2002-333398
出願日： 2001年05月07日
公開日（公表日）： 2002年11月22日
要約：

【要約】【課題】 本発明は、大気環境の環境因子の量を求めるだけで、電気機器を回収することなく、また電気機器表面に直接接触することなく、電気機器表面の汚損速度を求めて電気機器の劣化の進行を診断することを目的とする。【解決手段】 診断対象となる電気機器が使用されている大気環境の有害度を測定する測定試料をその大気環境に所定期間暴露した後、当該測定試料を分析して大気環境の環境因子の量を求め、この環境因子の量を基に電気機器表面の汚損速度を求め、この汚損速度を基に電気機器の劣化を診断することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

診断対象となる電気機器が使用されている大気環境の有害度を測定する有害度測定用の測定試料を前記大気環境に所定期間暴露した後、当該測定試料を分析して前記大気環境の環境因子の量を求め、この環境因子の量を基に前記大気環境で使用される電気機器表面の汚損速度を求め、この汚損速度を基に前記電気機器の劣化を診断することを特徴とする汚損劣化診断方法。

IPC (3件)：

G01N 17/00 ,  G01N 33/20 ,  G01R 31/12 ZAB

FI (3件)：

G01N 17/00 ,  G01N 33/20 N ,  G01R 31/12 ZAB Z

Fターム (13件)：

2G015AA06 ,  2G015BA08 ,  2G015CA20 ,  2G050BA02 ,  2G050BA05 ,  2G050CA01 ,  2G050DA02 ,  2G050EB02 ,  2G055BA11 ,  2G055EA08 ,  2G055FA05 ,  2G055FA09 ,  2G055FA10