表面プラズモン共鳴角測定における試料濃度予測方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：伊藤研一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-144467
公開番号（公開出願番号）：特開2001-324445
出願日： 2000年05月17日
公開日（公表日）： 2001年11月22日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】結合定数及び解離定数を正確に測定するのに適した試料濃度を予測すること、本測定の測定時間を大幅に短縮することを可能にする表面プラズモン共鳴角測定における試料濃度予測方法を提供する。【解決手段】記憶部材に記憶された表面プラズモン共鳴角検出時に光の反射率を算出する下記結合時の反応式、のデータに、試料から予測される解離定数値(KD値)、解離速度定数値(Kd値)及び試料の供給流速と試料の容量から予測される反応時間に関するデータを設定し、金属薄膜が製膜されたガラス基板から反射される光の各反射率(R)と予測される試料濃度とから各試料濃度に対応する試料の結合曲線及び解離曲線を想定する。表面プラズモン共鳴角測定により試料の結合定数及び解離定数を測定する際に使用する試料濃度を決定する。

請求項（抜粋）：

表面プラズモン共鳴角測定により試料の結合定数及び解離定数を測定する際に使用する試料濃度を決定するに際し、記憶部材に記憶された表面プラズモン共鳴角検出時に光の反射率を算出する下記反応式データに、試料から予測される解離定数値(KD値)、解離速度定数値(Kd値)及び試料の供給流速と試料の容量から予測される反応時間に関するデータを設定し、金属薄膜が製膜されたガラス基板から反射される光の各反射率(R)と予測される試料濃度とから各試料濃度に対応する試料の結合曲線及び解離曲線を想定可能にした表面プラズモン共鳴角測定における試料濃度予測方法。結合時の反応式R={Ka・[A]・Rmax}/{Ka・[A]+Kd}・{1-e-(Ka・[A]+Kd)・t}解離時の反応式R=R0・e-Kd・tR:反応率、Ka:結合速度定数、Kd:解離速度定数、KD:解離定数、[A]:濃度、R0:反応時間終了後の値、t:反応時間

IPC (2件)：

G01N 21/27 , G01N 33/543 595

FI (2件)：

G01N 21/27 C , G01N 33/543 595

Fターム (13件)：

2G059AA01 , 2G059BB14 , 2G059DD12 , 2G059DD13 , 2G059EE02 , 2G059EE12 , 2G059FF03 , 2G059GG01 , 2G059JJ12 , 2G059JJ21 , 2G059KK04 , 2G059MM01 , 2G059MM09

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