特許
J-GLOBAL ID：200903019040245284

不純物検出のための方法および装置

発明者：
ヨンドン ウオン

ヨンドン ウオン について


出願人/特許権者：
パーキンエルマー インスツルメンツ エルエルシー

パーキンエルマー インスツルメンツ エルエルシー について


代理人 (1件)： 斉藤 武彦 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-132020
公開番号（公開出願番号）：特開2002-267648
出願日： 2001年04月27日
公開日（公表日）： 2002年09月18日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】液体クロマトグラフィー(LC)のピーク解析に適用される不純物の検出にあたり、スペクトロフォトメータ(分光光度計)あるいはフォトダイオードアレイ(PDA)検出器を利用し、定量化する方法を提供する。【解決手段】 LC不純物検出のためのアルゴリズムを適用する方法であって、LCカラム20はUV-VISスペクトロフォトメータと共に用いられる流通セル22を有し、サンプル10はLCカラム20を通って溶離されまた洗浄される。200〜800nm領域における放射線(光線)にさらされたとき、サンプル10の特定の化学構造はPDA検出器34に検出されると、入口スリット32およびグレーティング(回折格子)33を通して特性スペクトルピークが生成される。成分のスペクトル吸光度は放射線の強度等から計算され、サンプル内成分が解析される。
請求項（抜粋）：
少なくとも1つのアナライト(被検体)を有するサンプルにおける不純物を検出するための方法であって、前記サンプルにおける成分の予想される数をあらわす値を選択するステップと、前記サンプルについての特性測定値、前記特性測定値は各次元について少なくとも2つの変数を有する、をあらわすマトリクス(行列)を生成するステップと、前記アナライトと不純物との間の関係の分析のために前記マトリクス内におけるサブセットを繰り返し選択するステップと、前記サンプルの純度を査定するために前記サブセットから指数を演算するステップとからなる各ステップを有する方法。
IPC (2件)：
G01N 30/86 ,  G01N 21/27
FI (2件)：
G01N 30/86 H ,  G01N 21/27 Z
Fターム (22件)：
2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059CC12 ,  2G059DD01 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE05 ,  2G059EE07 ,  2G059EE10 ,  2G059EE12 ,  2G059FF04 ,  2G059FF10 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ05 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059MM04 ,  2G059MM17 ,  2G059NN01
引用特許：
出願人引用 (4件)
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