特許
J-GLOBAL ID：200903019051060596
回路基板検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 精孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-053759
公開番号（公開出願番号）：特開平5-256620
出願日： 1992年03月12日
公開日（公表日）： 1993年10月05日
要約：
【要約】【目的】 装着部品の重心位置を正確に求めて位置ずれ等を判定を高精度に行なえる回路基板検査装置を提供すること。【構成】 回路基板K上に装着された電子部品Cを撮像する撮像器2と、電子部品Cと交差する複数のエッジ検出ラインの輝度デ-タからエッジ位置を算出するエッジ位置算出手段3bと、該エッジ位置から装着部品Cの重心位置を求める重心位置算出手段3dと、求められた重心位置を基準位置と比較して装着部品Cの位置ずれ等を判定する判定手段3fとを具備した回路基板検査装置において、エッジ検出ラインで得られた輝度デ-タにおけるしきい値の上限と下限の間に該輝度デ-タの検出ポイントが入らない場合に、輝度デ-タと該輝度デ-タの最大値及び最小値から規定されるしきい値の上限及び下限との交点の座標の和の2分の1からエッジ位置を算出する第2のエッジ位置算出手段3cを設けている。
請求項（抜粋）：
回路基板上に装着された電子部品を撮像する撮像器と、電子部品と交差する複数のエッジ検出ラインの輝度デ-タからエッジ位置を算出するエッジ位置算出手段と、該エッジ位置から装着部品の重心位置を求める重心位置算出手段と、求められた重心位置を基準位置と比較して装着部品の位置ずれ等を判定する判定手段とを具備した回路基板検査装置において、エッジ検出ラインで得られた輝度デ-タにおけるしきい値の上限と下限の間に該輝度デ-タの検出ポイントが入らない場合に、輝度デ-タと該輝度デ-タの最大値及び最小値から規定されるしきい値の上限及び下限との交点の座標の和の2分の1からエッジ位置を算出する第2のエッジ位置算出手段を設けた、ことを特徴とする装着部品検査装置。
IPC (4件)：
G01B 11/24
, G01N 21/88
, G06F 15/62 405
, G06F 15/70 335
