特許

J-GLOBAL ID：200903019052128160

半導体集積回路

発明者： 青木 一夫
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 早瀬 憲一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-099213
公開番号（公開出願番号）：特開平6-309475
出願日： 1993年04月26日
公開日（公表日）： 1994年11月04日
要約：

【要約】【目的】 テストモード設定用のテスト端子を設けることなく、集積回路をテストモードに設定する。【構成】 テスト時に印加する電源電圧波形を制御し、その特定の波形を集積回路内で検出し、テストモードを設定するためのテスト信号を発生するテスト信号発生回路2を設けた。【効果】 集積回路に専用に設ける必要のあったテスト端子が省略でき、端子の有効活用ができる。

請求項（抜粋）：

通常動作時に使用する入・出力端子の内部回路との接続を切り換えてテストモードの設定を行い、前記入力端子よりテスト信号を半導体集積回路内の試験対象となる内部回路に直接供給し、その出力を上記出力端子より出力する経路を有する半導体集積回路において、所定の電源電圧に、所定のパルス波形を重畳してなるテストモード設定用電圧を上記半導体集積回路に供給する電源と、上記電源の後段に設けられ、上記テストモード設定用電圧の波形の特徴を検出してテストモード設定信号を発生し、これにより上記入・出力端子の接続の切り換えを行って、上記テストモードの設定を行うテストモード設定手段とを備えたことを特徴とする半導体集積回路。

IPC (4件)：

G06F 15/78 510 ,  G06F 15/78 ,  G06F 11/22 330 ,  G11C 29/00 303