特許
J-GLOBAL ID:200903019079556821

プログラム性能評価用データの測定方法およびそのための測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長谷川 文廣 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-296453
公開番号(公開出願番号):特開平8-153026
出願日: 1994年11月30日
公開日(公表日): 1996年06月11日
要約:
【要約】【目的】 プログラム性能評価用データを従来の約半分の時間で求めることを目的とする。【構成】 時計4と、測定対象プログラム3の例えばプロセッサ使用ルーチンにおいてのみ所定の時間間隔で動作して時計4を参照する機能を備えた割込み処理ルーチンからなる測定用ライブラリ2と、前記割込み処理ルーチンの実行結果である割込み情報を格納するための情報ファイル5と、当該割込み情報に基づいて、測定対象プログラム3の走行時間に対応のプログラム走行時間デ-タと、当該走行時間中のプロセッサ使用時間に対応のプロセッサ使用時間デ-タとを求める機能を備えた解析プログラム6とからなり、これらの両デ-タを測定対象プログラム3の1回の走行で求めている。また、割込み処理の対象外のプロセッサ非使用ルーチンに対しては仮想割込み回数を求めている。
請求項(抜粋):
測定対象プログラムのプロセッサ使用ルーチンの走行時又はプロセッサ非使用ルーチンの走行時のいずれか一方においてのみ所定の時間間隔で動作して時計を参照する機能を備えた割込み処理ルーチンからなる測定用ライブラリを走行させ、前記測定対象プログラムの走行時間に対応のプログラム走行時間デ-タと、当該走行時間中のプロセッサ使用時間に対応のプロセッサ使用時間デ-タとを、前記測定対象プログラムの1回の走行で得られるようにしたことを特徴とするプログラム性能評価用データの測定方法。

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