特許

J-GLOBAL ID：200903019084902100

電子部品の位置決め方法およびその装置

発明者： 小川久彦 ,  高倉敏明 ,  沼田晃和 ,  高崎浩幸
出願人/特許権者： 日本アビオニクス株式会社
代理人 (1件)： 功力 妙子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-292160
公開番号（公開出願番号）：特開平5-110296
出願日： 1991年10月12日
公開日（公表日）： 1993年04月30日
要約：

【要約】【目的】 基板のリ-ドと電子部品のリ-ドとを正確に位置決めすることの出来る方法と装置を提供する。【構成】 基板上の2ヵ所の位置決めマ-クを順次撮像してX-Y方向のあらい位置決めと傾とを求め、基板と電子部品とのリ-ドを対向位置させて、両端近傍にある両リ-ド群をそれぞれ撮像し、基板の両端リ-ド群の位置情報から両リ-ド群の平均位置をそれぞれ求め、この両平均位置情報から基板のリ-ド位置の中点を求め、電子部品の両端リ-ド群の各位置情報からリ-ド先端の平均位置および傾をそれぞれ求め、両平均位置および両傾から電子部品のリ-ドの中点および傾を求め、基板と電子部品とのそれぞれ中点と傾を一致させ、位置決めする。【効果】 基板と電子部品との位置決め精度が非常によく、電子部品にそりがある場合でも正確な位置決めが出来る。

請求項（抜粋）：

少なくとも2箇所に位置決めマ-クが配設されているとともに、この両位置決めマ-クの間に、多数のリ-ドが配設されている基板と、この基板のリ-ドに対応するリ-ドが配設されている電子部品との位置決め方法において、前記基板上の少なくとも2ヶ所の前記位置決めマ-クを順次撮像してそれぞれ得られた位置情報から前記基板のX、Y方向のあらい位置決めをするとともに、この基板の傾を求め、この基板のリ-ドと前記電子部品のリ-ドとを同一軸線上に対向位置させて両端近傍にある両端リ-ド群をそれぞれ撮像し、この撮像された前記基板の両端のリ-ド群の各位置情報からこの両リ-ド群の平均位置をそれぞれ求め、この両端リ-ド群の両平均位置から前記基板のリ-ド位置の中点を求め、撮像された前記電子部品の両端のリ-ド群の位置情報からこの両リ-ド群のリ-ド先端の平均位置および傾をそれぞれ求め、この両リ-ド群のリ-ド先端の両平均位置および両傾の平均から前記電子部品のリ-ド位置の中点および傾を求め、前記基板のリ-ドの中点および前記基板の傾と前記電子部品のリ-ドの中点および前記電子部品の傾とを一致させて前記基板に前記電子部品を位置決めした後、前記基板のリ-ド上に前記電子部品のリ-ドを重ね合わせることを特徴とする電子部品の位置決め方法。

IPC (4件)：

H05K 13/04 ,  B23P 19/00 303 ,  G01B 11/00 ,  G06F 15/62 405

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭62-086789
  
• 特開昭63-137500