特許
J-GLOBAL ID:200903019087247366

半導体装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 梶原 辰也
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-056677
公開番号(公開出願番号):特開平7-244113
出願日: 1994年03月02日
公開日(公表日): 1995年09月19日
要約:
【要約】【目的】 耐用年数以前に故障の蓋然性が高まったことを自分で予測して予測信号を出力する。【構成】 電子回路が作り込まれたペレット3と、ペレットに接続されたインナリード6と、ペレット、インナリードを封止する封止体8と、インナリードに接続され封止体から突出されたアウタリード9とを備えたIC1において、電子回路の信頼度または寿命を予測する予測回路10がペレット3に作り込まれ、予測回路10がインナリード6、アウタリード9aにより外部に電気的に引き出されている。【効果】 ICの耐用年数以前に故障の蓋然性が高まった時に予測回路10から予測信号が出力されるため、故障発生前にICを交換でき、IC使用の電子機器の不測の稼動停止を未然に防止できる。予測信号が出力されない正常なICの無駄な交換を回避できる。
請求項(抜粋):
電子回路が作り込まれている半導体ペレットと、半導体ペレットの電極パッドに電気的に接続されているインナリードと、半導体ペレットおよびインナリードを封止する封止体と、インナリードに電気的に接続されて封止体から突出されているアウタリードとを備えている半導体装置において、前記半導体ペレットに作り込まれた電子回路の寿命または信頼度を予測する予測回路が封止体の内部に配設されており、この予測回路が前記インナリードおよびアウタリードにより外部に電気的に引き出されていることを特徴とする半導体装置。
IPC (2件):
G01R 31/26 ,  H01L 21/66

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