特許
J-GLOBAL ID:200903019118750002

エマルジョンの転相評価装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 上島 淳一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-162762
公開番号(公開出願番号):特開平8-005539
出願日: 1994年06月21日
公開日(公表日): 1996年01月12日
要約:
【要約】 (修正有)【目的】エマルジョンの時間経過にともなう組成比の変化を、目視によりリアルタイムで連続的に観察することを容易にするとともに、エマルジョンの種類を変えて測定する際の各部材の交換作業や洗浄作業の作業性を向上させる。【構成】プレート1上に載せたエマルジョン供試体をチップ2により擦り、エマルジョン供試体の粘性抵抗を歪みゲージ6で測定するとともに、組成比が変化して粘性特性が変わる状態変化をCCDカメラ9でリアルタイムに観測する。エマルジョン供試体の種類によってチップ2を交換したり、あるいは汚れたチップ2を洗浄する場合には、チップ2を取付けているアーム19を後方に回動させて手で支えることにより、チップ2の交換作業や洗浄作業を実施する。
請求項(抜粋):
組成比が時間とともに変化していくエマルジョンの転相過程における力学特性の変化を連続的に測定するエマルジョンの転相評価装置において、エマルジョン供試体を載せるプレートと、前記プレート上に載せられた前記エマルジョン供試体を押圧しながら左右に移動して擦りつけるチップと、前記チップと板バネを介して連結されるとともに、前記チップを所定の圧力で前記プレート上に押し付ける押圧装置と、前記プレート上に載せられた前記エマルジョン供試体の表面に送風する送風装置と、前記チップと前記押圧装置とを連結している前記板バネに貼着されて、前記板バネの撓み量から前記チップの擦り抵抗力を測定する歪ゲージと、前記チップを前記プレート上に押圧した状態で左右に往復移動させる擦り機構と、前記プレート上に擦りつけられるエマルジョン供試体の状態変化をリアルタイムで観測する受像装置とを有するようにしたことを特徴とするエマルジョンの転相評価装置。
引用特許:
審査官引用 (6件)
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