特許
J-GLOBAL ID：200903019127963396

吸収の検出により複数のサンプルを同時に分析する方法、及びこのような方法で使用されるシステム

発明者：
ユング、エドワード エス.

ユング、エドワード エス. について

, 
ゴン、シャオイ

ゴン、シャオイ について


出願人/特許権者：
アイオワ ステイト ユニヴァーシティ リサーチ ファウンデーション インコーポレイテッド

アイオワ ステイト ユニヴァーシティ リサーチ ファウンデーション インコーポレイテッド について


代理人 (1件)： 高島 一
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-522067
公開番号（公開出願番号）：特表2003-508783
出願日： 2000年07月28日
公開日（公表日）： 2003年03月04日
要約：
【要約】本発明は、吸収検出により複数のサンプルを同時に分析する方法を提供する。本方法は、(i)複数容器の平面アレイを提供する工程を包含し、該複数容器の各々が少なくとも1つの吸収種を含有するサンプルを含み、(ii)光源で複数容器の平面アレイを照射する工程を包含し、(iii)検出手段を用いて光の吸収を検出する工程を包含し、該検出手段が、複数容器の平面アレイ中の容器の断面距離の少なくとも約10倍の距離で光源と整列している。サンプルによる光の吸収は、該サンプル中の吸収種の存在を示す。本方法はさらに、(iv)(iii)において検出された光の吸収量を測定する工程を包含し、この光の吸収量がサンプル中の吸収種の量を示す。上記方法で使用するためのシステムもまた、本発明によって提供される。本システムは、(i)光の少なくとも1つの波長を含むか、またはそれらから本質的になる光源を備え、該波長の吸収が検出され、(ii)複数容器の平面アレイを備え、(iii)光源と整列しており、かつ容器の断面距離の少なくとも約10倍の距離で該複数容器の平面アレイと整列かつ並行して配置されている検出手段を備える。
請求項（抜粋）：
吸収検出により複数のサンプルを同時に分析する方法であって、該方法は、: (i)複数容器の平面アレイを提供する工程を包含し、該複数容器の各々が少なくとも1つの吸収種を含有するサンプルを含み、 (ii)該少なくとも1つの吸収種の1以上によって吸収される光の少なくとも1つの波長を含むか、またはそれらから本質的になる光源で、複数容器の平面アレイを照射する工程を包含し、該波長の吸収が検出され、 (iii)検出手段を用いて該少なくとも1つの吸収種の1以上による光の吸収を検出する工程を包含し、該検出手段が、光源と整列しており、かつ複数容器の平面アレイ中の容器の断面距離の少なくとも約10倍の距離で該複数容器の平面アレイと整列かつ並行して配置されており、該断面距離が、複数容器の平面アレイの平面に対して直交方向で測定されたものであり、 ここで、複数容器の平面アレイ中のサンプルによる光の吸収の検出が該サンプル中の吸収種の存在を示す、方法。
IPC (4件)：
G01N 21/17 ,  G01N 21/05 ,  G01N 27/447 ,  G01N 30/02
FI (5件)：
G01N 21/17 D ,  G01N 21/05 ,  G01N 30/02 L ,  G01N 27/26 315 K ,  G01N 27/26 325 B
Fターム (22件)：
2G057AA02 ,  2G057AA04 ,  2G057AB07 ,  2G057AC01 ,  2G057BA05 ,  2G059AA01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB04 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ11 ,  2G059KK04 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059NN01 ,  2G059NN05 ,  2G059NN10
引用特許：
審査官引用 (3件)
  • 検査用プレート及び検査方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-247750   出願人：大日本インキ化学工業株式会社, ディックモールディング株式会社, ニッポン・ディーピーシー・コーポレーション
  • 特許第2901642号
  • 特許第2901642号
引用文献：
審査官引用 (3件)

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