外観検査装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：曾我道照 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-255097
公開番号（公開出願番号）：特開平11-094764
出願日： 1997年09月19日
公開日（公表日）： 1999年04月09日
要約：

【要約】【課題】光学的手段と画像処理により、被検査物表面の傷の有無を判定する上で、被検査物表面の性質により見掛け上で傷とみなされるような外乱を除去し、高速判定処理が行える外観検査装置を提供する。【解決手段】光学カメラ3からの電子的画像データを格納した画像データメモリ6から、疑わしいものを含んだ所定照度帯域に含まれる画素に対する仮判定ビットメモリ15を生成し、傷と見なされる塊の大きさと画素の集積値との組合わせによって正常な被検査物1の外乱限度を超える塊の大きさや集積値となった場合に異常判定出力17を発生する。

請求項（抜粋）：

照明光を受けた被検査物からの反射光に応動し、その照度に対応した映像信号を発生する撮影手段、前記撮影手段の映像枠を多数の画素に分割し、各画素対応の反射光照度が不具合仮判定帯域に有るか否かを判定する不具合仮判定帯域判定手段、前記各画素対応の反射光照度が不具合仮判定帯域にあると判定された場合に、各画素に対応して論理「0」または「1」が書込まれる仮判定ビット記憶手段、前記仮判定ビット記憶手段の内容により前記被検査物の傷と看做された判定塊面積と集積面積との組合わせとにより前記被検査物の異常の有無を判定する異常判定手段、異常有り判定時に異常判定出力を発生する異常判定出力手段を備えたことを特徴とする外観検査装置。

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