特許

J-GLOBAL ID：200903019215992045

光パルスの瞬時強度位相計測方法および装置

発明者： 小栗 克弥 ,  石澤 淳 ,  岡野 泰彬 ,  西川 正 ,  中野 秀俊
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社
代理人 (3件)： 山川 政樹 ,  黒川 弘朗 ,  山川 茂樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-314605
公開番号（公開出願番号）：特開2006-126008
出願日： 2004年10月28日
公開日（公表日）： 2006年05月18日
要約：

【課題】より簡便に高強度極短光パルスの瞬時強度位相を計測できるようにする。【解決手段】イオン化ガス7に高強度極短光パルス2を照射し、非段階的イオン化過程によって生成される2価イオンの生成量を測定する。この測定を光パルス2の瞬時強度位相を変化させて、繰り返し行う(ステップS1〜S5)。2価イオンの生成量は光パルス2の瞬時強度位相に対応して周期的に変化するので、2価イオンの生成量の測定結果から光パルスの瞬時強度位相を所定量変化させたときの瞬時強度位相の値を算出することができる(ステップS6、S7)。【選択図】 図3

請求項（抜粋）：

光パルスの瞬時強度位相を変化させてイオン化ガスに照射し、非段階的イオン化過程によって生成される2価イオンの生成量を繰り返し測定するステップと、 前記光パルスの瞬時強度位相の変化に応じた前記2価イオンの生成量の周期的変化から前記光パルスの瞬時強度位相を所定量変化させたときの前記瞬時強度位相の値を算出するステップと を備えることを特徴とする光パルスの瞬時強度位相計測方法。

IPC (1件)：

G01J 11/00

FI (1件)：

G01J11/00

Fターム (6件)：

2G065AA04 ,  2G065AA12 ,  2G065AB14 ,  2G065BC13 ,  2G065BC33 ,  2G065BC35