特許

J-GLOBAL ID：200903019247439550

計測方法及び装置

発明者： 辻下 正秀 ,  平野 光 ,  西垣 雅司 ,  岡本 秀樹
出願人/特許権者： 大阪瓦斯株式会社
代理人 (1件)： 北村 修 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-233775
公開番号（公開出願番号）：特開平10-078444
出願日： 1996年09月04日
公開日（公表日）： 1998年03月24日
要約：

【要約】【課題】 ガス流に於ける流速及び特定化学種の濃度計測を、同一部位において同時的におこなうことが可能な計測方法を得る。【解決手段】 レーザー光源からのレーザー光を、計測域に2方向から照射し、前記計測域に前記レーザー光による干渉縞を形成するとともに、前記計測域内に観測粒子を投入して、この干渉縞を通過する前記観測粒子が散乱させる散乱光の時間領域における変化を検出して、計測域内にある流体の流速を求める流速計測工程と、計測域内にある特定化学種から、レーザー光の吸収に基づいて発生される蛍光を検出して、この蛍光の強度より特定化学種の濃度を求める濃度計測工程とを備え、計測レーザー光として、特定化学種により吸収されて蛍光が発生される波長のレーザー光を使用する。

請求項（抜粋）：

レーザー光源からのレーザー光を計測域に照射し、前記計測域に前記レーザー光により干渉縞を形成するとともに、前記干渉縞を通過する観測粒子が散乱させる散乱光の時間領域における変化を検出して、前記計測域内にある流体の流速を求める流速計測工程と、照射されたレーザー光の吸収により、前記計測域内にある特定化学種から発生される蛍光を検出して、前記蛍光の強度より前記特定化学種の濃度を求める濃度計測工程とを備え、前記計測域に照射する計測レーザー光として、前記特定化学種により吸収されて前記蛍光が発生される波長のレーザー光を使用し、前記計測レーザー光による散乱光を前記流速計測工程で、前記計測レーザー光による蛍光を前記濃度計測工程で使用する計測方法。

IPC (3件)：

G01P 5/00 ,  G01N 21/64 ,  G01S 17/50

FI (3件)：

G01P 5/00 C ,  G01N 21/64 Z ,  G01S 17/50