特許

J-GLOBAL ID：200903019290999977

ICテスタ用テストボード

発明者： 清水 禎之
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 青山 葆 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-249886
公開番号（公開出願番号）：特開2001-074805
出願日： 1999年09月03日
公開日（公表日）： 2001年03月23日
要約：

【要約】【課題】 同時にテストを行うことができるICの数を増加させテスト効率の向上を図ることができるICテスタ用テストボードを得る。【解決手段】 テストボード5から所定のテスト用信号を各ソケットSO1〜SOnに出力する際に使用される信号線群A1〜Anをそれぞれ異なる配線長にして、ソケットSO1〜SOnに挿入された各ICへの上記テスト用信号の到達遅延時間が異なるようにした。

請求項（抜粋）：

ICのテストを行うICテスタの本体と複数のICソケットとを接続するICテスタ用テストボードにおいて、対応するICソケットの所定の端子に対して電源の供給を行う各電源線と、対応するICソケットの所定の端子を接地する各GND線と、各ICソケットの所定の端子に対応して接続され、各ICソケットに応じて長さが異なる同じ長さの複数の信号線からなる各信号線群と、を備えることを特徴とするICテスタ用テストボード。

IPC (2件)：

G01R 31/26 ,  H01L 21/66

FI (3件)：

G01R 31/26 G ,  G01R 31/26 H ,  H01L 21/66 G

Fターム (10件)：

2G003AA07 ,  2G003AC01 ,  2G003AG01 ,  2G003AG08 ,  2G003AG17 ,  2G003AH04 ,  2G003AH07 ,  4M106AA04 ,  4M106BA14 ,  4M106DG23