特許
J-GLOBAL ID：200903019314293655
坪量測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小沢 信助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-182292
公開番号（公開出願番号）：特開平6-026917
出願日： 1992年07月09日
公開日（公表日）： 1994年02月04日
要約：
【要約】【目的】 Z方向の変動の影響を受けず,感度低下がなく,調整工数が不要で高精度な坪量測定装置を提供する。【構成】 β線源から放射され,シ-ト状の被測定体を透過してくるβ線をβ線検出器により検出し,前記被測定体の坪量の測定を行う坪量測定装置において,前記β線検出器の後方に配置され前記β線源から発生する制動X線を検出するX線検出器を設け,前記β線源とβ線検出器のZ方向の変位に基づくβ線検出器の出力変動を前記X線検出器の出力に基づいて補償する。
請求項（抜粋）：
β線源から放射され,シ-ト状の被測定体を透過してくるβ線をβ線検出器により検出し,前記被測定体の坪量の測定を行う坪量測定装置において,前記β線検出器の後方に配置され前記β線源から発生する制動X線を検出するX線検出器を設け,前記β線源とβ線検出器のZ方向の変位に基づくβ線検出器の出力変動を前記X線検出器の出力に基づいて補償したことを特徴とする坪量測定装置。
IPC (2件)：
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