特許
J-GLOBAL ID：200903019388999371
表面状態解析システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
宇井 正一 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-161872
公開番号（公開出願番号）：特開平7-019839
出願日： 1993年06月30日
公開日（公表日）： 1995年01月20日
要約：
【要約】【目的】 皮膚表面の「しみ」「そばかす」を形成するメラニン顆粒の存在する深さとその分布及び「しみ」「そばかす」の色の濃さの分布等を決定することの可能な表面状態解析システムを提供することを目的とする。【構成】 トリスペクトラルカメラ70により近紫外画像(400nm±10nm)、可視画像(550nm±10nm)、及び近赤外画像(700nm±10nm)を同時に撮影し、2値化し、それらを比較することによってしみ・そばかすのもととなるメラニン顆粒の深さを推定する。2値化に使用したスライスレベルに対応するL* 値を算出し、最も濃い部分のL* 値との間で3等分することにより、等分点に対応する輝度レベルを決定し、それを用いてしみ・そばかす画像の濃さを分類する。
請求項（抜粋）：
同一の対象物について複数の波長帯域における画像をそれぞれ出力する撮像装置と、該撮像装置が出力する複数の波長帯域における画像を構成する画素の明るさの分布から適切なスライスレベルをそれぞれ決定し、該スライスレベルよりも明るい画素の集合である明領域と該スライスレベルよりも暗い画素の集合である暗領域をそれぞれ決定して複数の2値画像を出力する2値化手段と、該複数の2値画像のうち少なくとも2つの2値画像から該対象物の表面付近に存在する色素の相対的深さと各相対的深さにおけるその分布とを決定する深さ解析手段とを具備することを特徴とする表面状態解析システム。
IPC (3件)：
G01B 11/30
, A61B 5/00
, G01B 11/00
