特許
J-GLOBAL ID:200903019413435089

磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 阿部 龍吉 (外7名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-032491
公開番号(公開出願番号):特開平11-230944
出願日: 1998年02月16日
公開日(公表日): 1999年08月27日
要約:
【要約】【課題】 小型、簡単な構成で、ケーブルに流れる電流により発生する磁界分布に近い環境を再現して磁気遮蔽用材料の遮蔽性能の試験を行えるようにする。【解決手段】 磁気遮蔽に用いられる遮蔽用材料を試料として性能試験を行う磁気遮蔽性能試験装置であって、遮蔽用材料からなる試料6を抑える試料抑え板5と、試料抑え板5の上面より下方で磁場を発生するコイル1と、試料抑え板5を上面に載置すると共にコイル1を中間で保持する測定用架台3-1、3-2と、試料抑え板5の上方で磁場を測定する測定プローブ4と備え、測定用架台3-1、3-2の上に試料抑え板5で試料6を抑え、コイル1で磁場を発生させて測定プローブ4で磁場を測定する。試料抑え板5で試料6を抑えたときの磁場と試料6のないときの磁場を測定して測定値の比を算出して遮蔽率を求める。
請求項(抜粋):
磁気遮蔽に用いられる遮蔽用材料を試料として性能試験を行う磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験装置であって、前記遮蔽用材料からなる試料を抑える試料抑え板と、前記試料抑え板の上面より下方で磁場を発生するコイルと、前記試料抑え板を上面に載置すると共に前記コイルを中間で保持する測定用架台と、前記試料抑え板の上方で磁場を測定する測定プローブとを備え、前記測定用架台の上に前記試料抑え板で試料を抑え、前記コイルで磁場を発生させて前記測定プローブで磁場を測定するように構成したことを特徴とする磁気遮蔽用材料の遮蔽性能試験装置。
IPC (3件):
G01N 27/72 ,  H05K 9/00 ,  G01R 33/12
FI (3件):
G01N 27/72 ,  H05K 9/00 H ,  G01R 33/12 Z
引用特許:
審査官引用 (4件)
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