特許
J-GLOBAL ID：200903019458458942
光波距離計による測距方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
北村 欣一 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-125090
公開番号（公開出願番号）：特開平5-323029
出願日： 1992年05月18日
公開日（公表日）： 1993年12月07日
要約：
【要約】【目的】 従来の光波距離計による測距方法と同程度の測定精度で測距時間を短縮することができる。【構成】 3つの周波数における測距信号と基準信号の位相差と、参照信号と基準信号の位相差を、各多数回測定して各位相差の平均値を算出し、各周波数における測距信号と基準信号の平均位相差と、参照信号と基準信号の平均位相差との差から測点までの距離を測定する場合、参照信号と基準信号の位相差の測定回数を、測距信号と基準信号の位相差の測定回数より少なくする。また、測距信号と基準信号の位相差の測定回数及び参照信号と基準信号の位相差の測定回数を、低い変調周波数程少なくする。
請求項（抜粋）：
複数の周波数の変調光を、測距光として測点に置かれた反射鏡に向けて発光素子から順次出射し、該反射鏡で反射してきた測距光を受光素子で測距信号に変換し、一方、前記複数の周波数の変調光を、参照光として距離計本体内部の参照光路に発光素子から順次出射し、該参照光を受光素子で参照信号に変換し、各周波数における前記測距信号と基準信号の位相差及び参照信号と基準信号の位相差を多数回測定して各位相差の平均値を算出し、各周波数における前記測距信号と基準信号の平均位相差と前記参照信号と基準信号の平均位相差との差から測点までの距離を測定する光波距離計による測距方法において、参照信号と基準信号の位相差の測定回数を、測距信号と基準信号の位相差の測定回数より少なくしたことを特徴とする光波距離計による測距方法。
引用特許：
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