特許
J-GLOBAL ID:200903019474077223

金属製品を磁気的に試験する方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 越場 隆 (外1名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-517808
公開番号(公開出願番号):特表平9-507294
出願日: 1994年12月22日
公開日(公表日): 1997年07月22日
要約:
【要約】磁化された被試験物(1)の欠陥(12,13)によって被試験物の外側に生じる磁場の変化を検出する磁場強度の変動に対して感応する検出手段(2)を含む金属製品(1)の磁気的試験装置。磁化手段(5,14)は被試験物(1)の表面(11)に対して直角な磁場を発生し、磁化手段の付近に位置した検出手段(2)は少なくとも1つの検出器、例えば磁気抵抗器を有する。その電気抵抗は検出器の周囲の磁場強度の関数である。特に、表面に幾何学的な凸凹を有する製品、例えば連続鋳造された鉄および鋼の製品の表面または表皮下の欠陥の検出にで用される。
請求項(抜粋):
被試験物を通って伝播する磁場を発生させる磁化手段と、磁場強度の変化に感応する被試験物中の欠陥を検出する検出手段とを含む金属製品の試験装置において、 検出手段(2)は少なくとも1つの磁気抵抗プローブで構成され、磁化手段(5)は被試験物(1)の表面(11)から離れた位置でこの表面と平行に配置可能な少なくとも1つの磁極面(7)を有し、磁化手段(5)は磁極面(7)を介して発生する磁場の入射磁力線(10)は被試験物の表面(11)に対してほぼ直角な方向で被試験物中に入り、検出手段(2)は磁化手段(5)が規定するエアギャップ(8)の外側かつその近傍に配置されることを特徴とする装置。
IPC (2件):
G01N 27/82 ,  G01N 27/90
FI (2件):
G01N 27/82 ,  G01N 27/90

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