特許
J-GLOBAL ID:200903019495502625
センサの異常検出方法及びセンサの異常検出装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
恩田 博宣 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-392479
公開番号(公開出願番号):特開2003-194598
出願日: 2001年12月25日
公開日(公表日): 2003年07月09日
要約:
【要約】【課題】 センサの出力特性の異常を検出できるセンサの異常検出方法及びセンサの異常検出装置を提供する。【解決手段】 磁束の向きの変化に応じた出力値が互いに反対の出力特性を有するとともに、同出力値を加算した際に一定の合計出力値が得られる一対の第1,第2センサ12,13を異常検出装置11に備える。第1,第2センサ12,13にて磁束の向きを検出し、その検出した両出力値を加算回路14にて加算し、その加算結果である電圧V3を中央演算処理装置15に出力する。中央演算処理装置15は電圧V3が所定(一定)の電圧である場合、第1,第2センサ12,13を正常と判定し、所定の電圧でなければ第1,第2センサ12,13のいずれか一方を異常と判定する。このようにして、異常検出装置11は第1,第2センサ12,13の出力特性の異常を検出できる。
請求項(抜粋):
物理量の変化に応じた出力値が互いに反対の出力特性を有するとともに、同出力値を加算した際に一定の合計出力値が得られる一対のセンサの異常検出方法であって、前記両センサの合計出力値が一定値でないとき、いずれか一方のセンサが異常と判定することを特徴とするセンサの異常検出方法。
IPC (3件):
G01D 18/00
, G01R 33/07
, H01L 43/08
FI (4件):
G01D 18/00
, H01L 43/08 A
, H01L 43/08 P
, G01R 33/06 H
Fターム (6件):
2F076AA06
, 2F076AA18
, 2G017AA06
, 2G017AD55
, 2G017BA09
, 2G017BA11
引用特許:
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