特許

J-GLOBAL ID：200903019555881159

シ-トの欠点検出装置およびシ-トの製造方法

発明者： 中井 康博 ,  宇川 修市 ,  平田 肇 ,  伊藤 哲哉
出願人/特許権者： 東レ株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-068442
公開番号（公開出願番号）：特開平11-326238
出願日： 1999年03月15日
公開日（公表日）： 1999年11月26日
要約：

【要約】【課題】不織布に発生する多様な欠点を精度よく検出すること。【解決手段】光源とシートとの間、およびシートと受光部との間に偏光板を互いに直交するように配置し、光源から照射されシートおよび2枚の偏光板を透過した光を受光部で撮像した後、2つの2値化手段によって種々の欠点を検出する。

請求項（抜粋）：

光透過性で、かつ光学的異方性をもつ被測定シートを挟んで光源と受光部とを配置し、受光部で得られた映像信号を画像処理手段で処理することによって被測定シートの欠点を検出する装置であって、前記被測定シートと前記光源との間および前記被測定シートと前記受光部との間に偏光板を偏光方向が互いに70〜110度の角度をなすように配置するとともに、前記画像処理装置に、前記映像信号を第1閾値によって2値化する第1の2値化手段と、前記映像信号を前記第1閾値よりも低い第2閾値によって2値化する第2の2値化手段と、前記第1、第2の2値化手段によって得られた2値化データに基づいて明暗それぞれの欠点を検出する欠点検出手段とを設けたことを特徴とする、シートの欠点検出装置。

IPC (4件)：

G01N 21/89 ,  D06H 3/08 ,  G01N 21/88 ,  D04H 17/00

FI (5件)：

G01N 21/89 610 A ,  G01N 21/89 H ,  D06H 3/08 ,  G01N 21/88 J ,  D04H 17/00