特許

J-GLOBAL ID：200903019659346999

大気圧イオン化質量分析法のための信号対雑音比改善方法

発明者： ヘイガー,ジェイムズ ダブリュ
出願人/特許権者： エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス アズ エムディーエス サイエックス
代理人 (2件)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-546184
公開番号（公開出願番号）：特表2004-514263
出願日： 2001年11月28日
公開日（公表日）： 2004年05月13日
要約：

衝突セルで隔てられた2つのマスフィルタを備える縦連質量分析計を利用する、イオンビームの信号対雑音比を改善する方法。第1のマスフィルタは、狭い質量対電荷比範囲の前駆体イオンだけが安定であり、所望の検体イオンのフラグメント化を最小限に抑えながら衝突活性化と、これに続く不要な脆弱イオンのフラグメント化とを促進するための中性ガスが入れられている衝突セルに向けて加速されるように、分解モードで作動する。第2のマスフィルタは、フラグメント化していないイオンだけがイオン検出器で記録されるように、第1のマスフィルタと同期して走査される。したがって、不要なバックグラウンドイオンより高いフラグメント化値を有する検体イオンが優先的に検出され、よってイオンビームの信号対雑音比が高められる。

請求項（抜粋）：

イオンビームの信号対雑音比を改善する方法において、 【0002】 (1)前駆体イオンを選択するために、前記イオンビームを第1の質量分解過程にかけるステップ; (2)不要なイオンのフラグメント化及び反応の内の少なくとも一方を促進するために、前記前駆体イオンをガスと衝突させるステップであって、前記衝突により、前記不要なイオンは前記前駆体イオンの質量対電荷比とは異なる質量対電荷比を有する二次イオンを生成するものであるステップ;及び (3)前記前駆体イオンの質量対電荷比とは異なる質量対電荷比をもつイオンを除去することによって前記イオンビームの信号対雑音比を高めるために、前記二次イオンを含む前記イオンビームを第2の質量分解過程にかけるステップ; を含むことを特徴とする方法。

IPC (3件)：

H01J49/26 ,  G01N27/62 ,  H01J49/42

FI (5件)：

H01J49/26 ,  G01N27/62 E ,  G01N27/62 K ,  G01N27/62 L ,  H01J49/42

Fターム (1件)：

5C038HH16

引用特許：

審査官引用 (1件)

• タンデム質量分析計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-298100   出願人：ユニサーチ・リミテツド