特許
J-GLOBAL ID：200903019746692151
ICテストシステムのイベント制御装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-027280
公開番号（公開出願番号）：特開平7-219804
出願日： 1994年01月31日
公開日（公表日）： 1995年08月18日
要約：
【要約】【目的】 ICテストシステム内で発生する全てのイベントを集中的に管理し、モジュールの可搬性、拡張性、保守性を高めるICテストシステムのイベント制御装置を提供する。【構成】 ICテストシステム内で、第1のモジュール群は非同期にイベントを発生し、イベント管理用モジュール3は第1モジュール群の発生イベントを集中して受け取り、第2のモジュール群はイベント管理用モジュール3により分配された、必要なイベントを受け取る。
請求項（抜粋）：
ICテストシステム内で、非同期にイベントを発生する複数の第1モジュール群と、イベントを受け取る複数の第2モジュール群と、第1モジュール群の発生イベントを集中して受け取り、第2モジュール群に分配するイベント管理用モジュール3を備えることを特徴とするICテストシステムのイベント制御装置。
IPC (2件)：
G06F 11/22 330
, G06F 9/06 540
