特許
J-GLOBAL ID:200903019746692151
ICテストシステムのイベント制御装置
発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-027280
公開番号(公開出願番号):特開平7-219804
出願日: 1994年01月31日
公開日(公表日): 1995年08月18日
要約:
【要約】【目的】 ICテストシステム内で発生する全てのイベントを集中的に管理し、モジュールの可搬性、拡張性、保守性を高めるICテストシステムのイベント制御装置を提供する。【構成】 ICテストシステム内で、第1のモジュール群は非同期にイベントを発生し、イベント管理用モジュール3は第1モジュール群の発生イベントを集中して受け取り、第2のモジュール群はイベント管理用モジュール3により分配された、必要なイベントを受け取る。
請求項(抜粋):
ICテストシステム内で、非同期にイベントを発生する複数の第1モジュール群と、イベントを受け取る複数の第2モジュール群と、第1モジュール群の発生イベントを集中して受け取り、第2モジュール群に分配するイベント管理用モジュール3を備えることを特徴とするICテストシステムのイベント制御装置。
IPC (2件):
G06F 11/22 330
, G06F 9/06 540
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