特許
J-GLOBAL ID:200903019763543780

丸棒試験片の電解研磨装置及び電解研磨方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 中村 稔 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-346475
公開番号(公開出願番号):特開2002-144152
出願日: 2000年11月14日
公開日(公表日): 2002年05月21日
要約:
【要約】【課題】 丸棒試験片の研磨量をその長さ方向で均一とする電解研磨装置及び方法を提供する。【解決手段】 本発明の丸棒試験片(38)の電解研磨装置(30)は、電解液(32)が注入される電解槽(34)と、この電解槽内に丸棒試験片をほぼ水平方向に保持する保持手段(40)と、この保持手段に保持された丸棒試験片に電流を供給して陽極電極とする電流供給機構(42,50)と、丸棒試験片の回りの所定箇所に配置され電流が供給される陰極電極(54)と、丸棒試験片及び陰極に直流電流を供給する直流電源(52)と、電解槽の外部に配置され丸棒試験片を非接触状態で駆動させる駆動手段(44,46)と、を有することを特徴とする。
請求項(抜粋):
電解液が注入される電解槽と、この電解槽内に丸棒試験片をほぼ水平方向に保持する保持手段と、この保持手段に保持された丸棒試験片に電流を供給して陽極電極とする電流供給機構と、丸棒試験片の回りの所定箇所に配置され電流が供給される陰極電極と、上記丸棒試験片及び陰極電極に直流電流を供給する直流電源と、上記電解槽の外部に配置され丸棒試験片を非接触状態で駆動させる駆動手段と、を有することを特徴とする丸棒試験片の電解研磨装置。
IPC (4件):
B23H 3/00 ,  B23H 7/26 ,  C25F 3/16 ,  C25F 7/00
FI (4件):
B23H 3/00 ,  B23H 7/26 Z ,  C25F 3/16 A ,  C25F 7/00 M
Fターム (3件):
3C059AA02 ,  3C059AB01 ,  3C059HA17

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