特許

J-GLOBAL ID：200903019804824098

有限要素解析装置

発明者： 阿波根 明 ,  小寺 秀俊 ,  崎山 一幸
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 松田 正道
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-186262
公開番号（公開出願番号）：特開平5-035766
出願日： 1991年07月25日
公開日（公表日）： 1993年02月12日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 有限要素解析を少ない計算時間で行う。【構成】 電磁界における有限要素法の二次元の基礎方程式にガラーキン法を適用したときの残差方程式は(数1)のようになる。【数1】Gi、Ni、A、Jo、H、n、νはそれぞれ残差、補間関数、ベクトルポテンシャル、強制電流密度、磁界の強さ、境界に垂直外向きの単位法線ベクトル、磁気抵抗率を表す。従来の有限要素解析で無視していた右辺第1項を、本発明では考慮することにより、境界の一致しない要素間の接合を行うことができる。

請求項（抜粋）：

解析しようとする対象を境界不一致を含めて領域分割した分割データを入力する入力手段と、その入力手段から入力された分割データを記憶する第1記憶手段と、前記解析しようとする対象に対応し、前記境界不一致部分の接合に相当する境界積分項を有する、残差方程式を記憶する第2記憶手段と、前記第1記憶手段の前記分割データを利用して、前記第2記憶手段の残差方程式を解析し、前記対象の所定の物理量を得る演算手段とを備えたことを特徴とする有限要素解析装置。