特許

J-GLOBAL ID：200903019828593968

分光分析装置

発明者： 猪俣 保 ,  松浦 民三 ,  田崎 克也
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
代理人 (1件)： 小沢 信助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-271244
公開番号（公開出願番号）：特開平5-107113
出願日： 1991年10月18日
公開日（公表日）： 1993年04月27日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】波長校正を正確かつ自動的に行なえる分光分析装置を提供する。【構成】重水素ランプ1、第1〜第3の球面鏡2a〜2c、平面鏡3、カットオフフィルタ4a、ゼロ用フィルタ4b、ホロニウムオキサイドフィルタ4c、からなるフィルタユニット4、入射スリット5a、セルスリット5b、レファレンススリット5c、グレーティング6、ビームスプリッタ7、フローセル8、サンプルフォトダイオード9a、レファランスフォトダイオード9bで構成し、フィルタユニット4を光路上におき、重水素ランプ1の零次光による零点と、重水素ランプ1の輝線の点、及びホロニウムオキサイドフィルタ4cの吸光による点を使用して多点校正を行う。

請求項（抜粋）：

重水素ランプからの光を回折したのちフォトダイオ-ドで検出する分光分析装置において、カットオフフィルタ,ゼロ用フィルタ,及びホロニウムオキサイドフィルタを有するフィルタユニットを光路上におき、前記重水素ランプの零次光による零点と、前記重水素ランプの輝線の点、及び内臓するホロニウムオキサイドの吸光による点を使用して多点校正を行うことを特徴とする分光分析装置。

IPC (2件)：

G01J 3/06 ,  G01N 21/27

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭61-056922
  
• 特開昭62-006127
  
• 特開平2-049127