特許
J-GLOBAL ID:200903019876263198

電子写真感光体の欠陥検出方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高梨 幸雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-394135
公開番号(公開出願番号):特開2003-195531
出願日: 2001年12月26日
公開日(公表日): 2003年07月09日
要約:
【要約】【課題】電子写真感光体上の欠陥を破壊することなく電子写真感光体の欠陥を検出することが可能な非破壊検査方法と装置を提供する。【解決手段】電子写真感光体101の欠陥検出方法において、導電性粒子を主成分とする帯電粒子102と該帯電粒子を担持し導電性と弾性を有した表面を備えた帯電粒子担持体103により構成された帯電手段を有し、該帯電粒子を介在させた状態で該帯電粒子担持体を電子写真感光体に当接させ、定電流電源105を用いて該帯電粒子担持体を介して該電子写真感光体に一定電流を流し、定電流電源の電圧変化に基づいて該電子写真感光体の欠陥を検出する。
請求項(抜粋):
電子写真感光体の欠陥検出方法において、導電性粒子を主成分とする帯電粒子と該帯電粒子を担持し導電性と弾性を有した表面を備えた帯電粒子担持体により構成された帯電手段を有し、該帯電粒子を介在させた状態で該帯電粒子担持体を電子写真感光体に当接させ、定電流電源を用いて該帯電粒子担持体を介して該電子写真感光体に一定電流を流し、定電流電源の電圧変化に基づいて該電子写真感光体の欠陥を検出することを特徴とする電子写真感光体の欠陥検出方法。
IPC (3件):
G03G 5/00 101 ,  G03G 15/02 ,  G03G 21/00
FI (3件):
G03G 5/00 101 ,  G03G 15/02 ,  G03G 21/00
Fターム (26件):
2H068EA41 ,  2H068FC01 ,  2H134KG01 ,  2H134QA02 ,  2H200GA16 ,  2H200GA18 ,  2H200GA23 ,  2H200GA30 ,  2H200GB50 ,  2H200HA02 ,  2H200HA21 ,  2H200HA30 ,  2H200HB12 ,  2H200HB17 ,  2H200HB22 ,  2H200HB45 ,  2H200HB46 ,  2H200HB47 ,  2H200HB48 ,  2H200MA03 ,  2H200MB01 ,  2H200MB04 ,  2H200MB06 ,  2H200MC15 ,  2H200NA16 ,  2H200PB02

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