特許
J-GLOBAL ID：200903019890730599
水膜測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松浦 兼行
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-353283
公開番号（公開出願番号）：特開平7-198341
出願日： 1993年12月28日
公開日（公表日）： 1995年08月01日
要約：
【要約】【目的】 本発明は車両前方の水膜の厚さを、前方を照射する光が水によって減衰された割合から算出測定しうる水膜測定装置を提供することを目的とする。【構成】 走査型距離測定装置1は所定波長の光ビームを出射し、路面5からの拡散反射光8を受光して受光信号に変換し、得られた受光信号の一部を分岐して反射光強度測定回路2へ供給する一方、受光信号の到達時間から目標までの距離を求め、距離と2次元情報とを組み合わせた情報を水膜厚さ検出回路3へ出力する。反射光強度測定回路2は反射光強度を測定し、測定結果を水膜厚さ算出回路3へ出力する。水膜厚さ検出回路3は水膜が無ければ得られる受光レベルを算出し、反射光強度測定結果とを比較して水膜による減衰を求め、水膜の厚さを算出する。
請求項（抜粋）：
測定しようとする液体の膜である水膜の厚さの程度に応じて受光信号の減衰量が変化する波長の光ビームを前方の路面上へ出射し、これにより得られる反射光を受光して受光信号の到達時間から目標までの距離を求める走査型距離測定装置と、該走査型距離測定装置からの受光信号に基づいて反射光強度を測定する反射光強度測定回路と、該反射光強度測定回路からの測定結果と、前記走査型距離測定装置からの出力とに基づいて水膜による受光レベルの減衰の割合から水膜の厚さを逆算する水膜厚さ算出回路とを有することを特徴とする水膜測定装置。
IPC (3件)：
G01B 11/06
, G01J 4/02
, G01N 21/21
