特許
J-GLOBAL ID：200903019929276874
粒度分布測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西田 新
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-247372
公開番号（公開出願番号）：特開平5-087725
出願日： 1991年09月26日
公開日（公表日）： 1993年04月06日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 セル内壁面の汚れが所定の尺度で検出されて清浄化され、セルの分解清掃等を行うことなく常に正確な測定結果を得ることのできる粒度分布測定装置を提供する。【構成】 セル5内壁面を掃くまたは擦るワイパー機構と、セル5の透過光または回折/散乱光からセル5の汚れを検出する検出手段、およびその検出結果に基づきワイパー機構52を駆動する制御手段を設ける。
請求項（抜粋）：
媒液中に被測定粒子群を分散させてなる懸濁液または乳濁液が内部に流されるセルと、このセルの外方からレーザ光を照射するとともに、その内部の懸濁液または乳濁液による回折/散乱光の強度分布を測定する測定光学系と、得られた回折/散乱光の強度分布から被測定粒子群の粒度分布を算出する演算手段を備えた装置において、上記セルの内面のうち少なくとも上記レーザ光が通過する部分を擦るまたは掃くワイパー機構と、上記セルを透過した光または回折/散乱光から当該セルの汚れを検出する検出手段と、その汚れの検出結果に基づき上記ワイパー機構を自動的に駆動する制御手段を備えたことを特徴とする粒度分布測定装置。
IPC (3件)：
G01N 15/02
, G01N 15/14
, G01N 21/88
