特許
J-GLOBAL ID：200903019988595363
マトリクス回路の検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
前田 弘 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-321828
公開番号（公開出願番号）：特開平6-342028
出願日： 1993年12月21日
公開日（公表日）： 1994年12月13日
要約：
【要約】【目的】 n行m列の要素を配置してなるマトリクス回路の検査装置において、検査に要する時間及びコストを低減する。【構成】 被測定マトリクス回路11のn個の各入力端子12の入力側に入力側周波数逓倍器16-1〜n を設け、正弦波信号発生回路15で発生した正弦波信号の周波数をそれぞれ1〜n逓倍する。被測定マトリクス回路11の各出力端子13側に出力側リレー27-1〜m と、フーリエ変換機能付き判定装置とを設け、一つの出力側リレーのみを閉じた状態で出力される合成信号の周波数スペクトラムから、不良箇所等を特定する。出力側リレー27-1〜n を順次一つずつ開閉し、m回の測定を行って、被測定マトリクス回路11内の全要素の良否を検査する。これにより、測定回数をn×m回からm回に大幅に低減し、検査時間及び検査コストを低減する。出力側に周波数逓倍器及び合成回路を設けてもよい。
請求項（抜粋）：
n行m列のマトリクス状に配置されたn×m個の要素,n個の入力端子及びm個の出力端子を有する被測定マトリクス回路に対し、該被測定マトリクス回路を装着するための装着部と、一定の周波数を有する検査信号を発生する検査信号発生装置とを備え、上記装着部に被測定マトリクス回路を装着した状態で検査信号発生装置で発生した検査信号を入力して、被測定マトリクス回路からの出力に基づき、マトリクス回路の特性を検査するようにしたマトリクス回路の検査装置であって、上記検査信号発生装置と被測定マトリクス回路の各入力端子との間にそれぞれ介設され、上記検査信号発生装置から出力される検査信号の周波数を各々一定の規則性をもって変化する逓倍量で逓倍するn個の入力側周波数変換手段と、上記被測定マトリクス回路の各出力端子の出力側に各々配置され、各出力端子からの出力を断接するm個の出力側開閉手段と、上記被測定マトリクス回路からの出力信号をフーリエ変換するフーリエ変換手段と、該フーリエ変換手段で変換された出力信号の周波数スペクトラムに基づき被測定マトリクス回路の電気的特性を測定する測定手段とを備えたことを特徴とするマトリクス回路の検査装置。
IPC (2件)：
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