特許

J-GLOBAL ID：200903020000637609

超音波探傷方法および超音波映像装置

発明者： 桂 浩章
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 村山 光威
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-286012
公開番号（公開出願番号）：特開2008-102071
出願日： 2006年10月20日
公開日（公表日）： 2008年05月01日
要約：

【課題】超音波探触子の走査平面に被検体表面が平行でなく、かつ微小な凸凹があっても、ゲート位置を設定するトリガ区間の設定方法により高品質なCスコープ像を得る。【解決手段】被検体5表面に超音波探触子4の原点(z0)から焦点を結ぶ超音波探触子4の高さz1に合わせる(ステップ1)。この高さz1にて、Aスコープ像の表面エコーにトリガ位置,幅,レベル、および走査エリア,ピッチを設定し走査する。走査ピッチごとに超音波を送受信し、トリガ区間内で表面エコーがトリガレベルを超えた時刻を表面エコー発生時刻保存メモリに記録(ステップ2)。被検体5内部に超音波探触子4の焦点を合わせ、トリガ位置,幅,レベルと、ゲート位置,幅を設定(ステップ3)。表面エコーの発生時刻は、記録した表面エコー発生時刻と、超音波探触子4と被検体5表面までの距離の変化量から予測し、トリガ位置を変更、走査してCスコープ像を得る(ステップ4)。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

超音波探触子が被検体を超音波検査する超音波探傷方法において、 前記被検体表面の傾きを調べるステップと、前記被検体内部を検査するステップとを有することを特徴とする超音波探傷方法。

IPC (3件)：

G01N 29/44 ,  G01N 29/38 ,  G01N 29/04

FI (3件)：

G01N29/22 502 ,  G01N29/22 503 ,  G01N29/10

Fターム (7件)：

2G047AC10 ,  2G047BC07 ,  2G047DA03 ,  2G047GB24 ,  2G047GF18 ,  2G047GG02 ,  2G047GH06

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 特許第3006945号公報