特許

J-GLOBAL ID：200903020032299179

磁束密度検出装置

発明者： 小谷 忠司
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (1件)： 梅田 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-007113
公開番号（公開出願番号）：特開平6-216432
出願日： 1993年01月20日
公開日（公表日）： 1994年08月05日
要約：

【要約】【目的】 低い磁束密度でも検出可能な磁束密度検出器を提供するとともに、磁束密度検出器の用途拡大を図る。【構成】 2個のホール素子HD2,HD3を用い、それぞれのホール素子HD2,HD3の出力ホール電圧を取り出す差動増幅器DA1,DA2を設け、取り出された出力ホール電圧を重畳する差動増幅器DA3を設ける。

請求項（抜粋）：

ホール素子を用い、該ホール素子の出力ホール電圧より磁束密度を検出する磁束密度検出装置において、前記ホール素子を複数個設け、それぞれのホール素子の出力ホール電圧を重畳する差動増幅器を設けたことを特徴とする磁束密度検出装置。

IPC (2件)：

H01L 43/06 ,  G01R 33/06

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭48-033871
  
• 特開昭58-201176