特許
J-GLOBAL ID:200903020047494113

直流特性試験装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-089600
公開番号(公開出願番号):特開2002-286815
出願日: 2001年03月27日
公開日(公表日): 2002年10月03日
要約:
【要約】【課題】 VSIMモードにおける測定精度が高く、双方のDCテストに対応できる直流特性試験装置を提供する。【解決手段】 VSIMモードで、スイッチS1及びS2はオンし、スイッチS3及びS4はオフする。選択された第1差動増幅器は、設定電圧101と試験電圧102が等しくなるように制御する。第1カレントミラー回路5は、リファレンス電流I5aを供給し、出力電流I5bを供給する。第2カレントミラー回路6は、リファレンス電流I6aを環流させ、出力電流I6bを環流させる。相補型エミッタフォロワ回路7は、リファレンス電流I5aとリファレンス電流I6aとの差である差電流ΔIaをDUTに供給する。電流計8は、出力電流I5bと出力電流I6bとの差である差電流ΔIbを測定する。
請求項(抜粋):
試験端子に接続される試験対象回路に対して、一定の電圧を供給して電流を測定するVSIMモード、及び、一定の電流を供給して電圧を測定するISVMモードの何れかで作動する直流特性試験装置において、前記一定の電圧に対応する設定電圧を発生する電圧源と、前記設定電圧が非反転端子に接続され、前記試験端子が反転端子に接続される第1の差動増幅器と、前記試験端子が非反転端子に接続され、出力端子が反転端子にフィードバックされる第2の差動増幅器と、前記VSIMモードで前記第1の差動増幅器を選択し、前記ISVMモードで前記第2の差動増幅器を選択する切換え回路と、第1の電源電圧から第1のリファレンス電流を供給する電流供給回路と、第2の電源電圧から第2のリファレンス電流を環流させる電流環流回路と、一対のエミッタフォロワから成り、一方のコレクタから前記第1のリファレンス電流を環流させ、他方のコレクタから前記第2のリファレンス電流を供給する相補型エミッタフォロワ回路と、第1の設定電流を供給する第1の電流源と、第2の設定電流を環流させる第2の電流源とを備え、前記VSIMモードで、前記試験回路からの出力電流により、前記第1のリフィレンス電流と前記第2のリファレンス電流に差が生じ、前記ISVMモードで、前記第1の設定電流と前記第2の設定電流との差によって前記一定の電流を前記試験対象回路に供給することを特徴とする直流特性試験装置。
IPC (2件):
G01R 31/3183 ,  G01R 31/319
FI (2件):
G01R 31/28 Q ,  G01R 31/28 R
Fターム (6件):
2G132AA00 ,  2G132AD01 ,  2G132AG01 ,  2G132AH07 ,  2G132AL11 ,  2G132AL40

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